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载流子

[填空题]在P型半导体中()是多数载流子;在N型半导体中电子是多数载流子。
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15.(判断题)在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。()(本题2.0分)
A、正确
B、错误
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利用霍尔片,我们可以测量一步到位哪些物理量()。
A、磁场;B、电功率;C、载流子浓度;D、载流子类型。
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(填空题)N型半导体中多数载流子是___,P型半导体中多数载流子是____。(本题4.0分
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1.(填空题)N型半导体中多数载流子是___,P型半导体中多数载流子是____。(本题4.0分)
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半导体传感器是通过材料的电特性变化实现被测量的转换,下列关于气敏传感器工作机理的描述,不正确的是()。

A、氧化性气体吸附到N型半导体上,使半导体载流子减少,电阻值增加

B、氧化性气体吸附到P型半导体上,使半导体载流子增多,电阻值减少

C、还原性气体吸附到P型半导体上,使半导体载流子减少,电阻值增加

D、还原性气体吸附到N型半导体上,使半导体载流子减少,电阻值增加

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光照射在一块掺杂浓度为1017cm-3的N型硅样品上,假设光照引起的载流子产生率为1013cm-3,求少数载流子浓度和电阻率。

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半导体材料的电阻率与载流子浓度有关,同样的掺杂浓度,载流子的迁移率越大,材料的电阻率()

A、越高

B、不确定

C、越低

D、不变

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PN结形成的过程中,P型半导体中的多数载流子空穴向()区进行扩散,N型半导体中的多数载流子自由电子向()区进行扩散。

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在N型半导体中,电子是多数载流子,空穴是少数载流子,多子(自由电子)的数量=()+少子(空穴)的数量。

A、正离子数

B、负离子数

C、质子

D、原子

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下列关于P型半导体的说法正确的是()。

A、自由电子`数大于空穴总数

B、空穴总数远大于自由电子数

C、自由电子成为多数载流子

D、空穴成为少数载流子

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简述光生伏特效应中正确的是()

A、用能量小于禁带宽度的光子照射p-n结;

B、p、n区都产生电子—空穴对,产生平衡载流子;

C、平衡载流子破坏原来的热平衡;

D、非平衡载流子在内建电场作用下,n区空穴向p区扩散,p区电子向n区扩散;若p-n结开路,在结的两边积累电子—空穴对,产生开路电压。

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假设某LED具有100MHz的3-dB电带宽(完全决定于其载流子寿命)。试求载流子寿命,并画出此二极管在0~500MHz范围内类似于下图的归一化频率响应曲线

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[单项选择题]在P型半导体中多数载流子是(),在N型半导体中多数载流子是()。
A.空穴/自由电子
B.自由电子/空穴
C.空穴/共价键电子
D.负离子/正离子
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一块半导体寿命τ=15μs,光照在材料中会产生非平衡载流子,光照突然停止30μs后,其中非平衡载流子将衰减到原来的()。

A、1/4;

B、1/e;

C、1/e2;

D、1/2

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N型半导体中的多子是带负电的自由电子载流子,P型半导体中的多子是带正电的空穴载流子,因此说N型半导体带负电,P型半导体带正电。上述说法对吗?为什么?

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半导体传感器是通过材料的电特性变化实现被测量的转换,当氧化性气体吸附到N型半导体上,使半导体载流子减少,电阻值();当氧化性气体吸附到P型半导体上,使半导体载流子(),电阻值减少。

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关于本征半导体载流子,下面描述错误的是:()

A、自由电子和空穴总是成对出现

B、电子可以自由移动,空穴不能自由移动

C、在温度升高和受光照射时,载流子的数目将增加

D、自由电子和空穴在外电场作用下,运动方向相反,形成的电流方向相同,总电流是两者之和

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利用霍尔效应制作的霍尔元件.广泛应用于测量和自动控制等领域。下图是霍尔原理工作图,磁感应强度为B,磁场方向垂直于霍尔元件的工作面向里,通入图示方向的电流为I,a、b两侧面会形成电势差。下列正确的是(  )。 A.若霍尔元件的载流子是正电荷,a侧电势高于b侧B.若霍尔元件的载流子是负电荷,a侧电势高于b侧C.无论霍尔元件的载流子是正、负电荷。a侧电势均高于b侧D.霍尔元件给定后,霍尔电压反比于磁感应强度B和通人的电流,的大小
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三极管基极的作用是()载流子。

A.发射

B.输送控制

C.收集

D.放大

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