缺陷对晶体的性能有重要影响，常见的缺陷为（）。

A、点缺陷

B、线缺陷

C、面缺陷

D、A+B+C

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• 下列属于实际金属晶点缺陷的有（）Ⅰ．空位；Ⅱ．位错；Ⅲ．置换原子；Ⅳ．间隙原子；Ⅴ．亚晶界。

  A、Ⅰ+Ⅴ

  B、Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ+Ⅳ

  C、Ⅰ+Ⅲ+Ⅳ

  D、Ⅱ+Ⅲ+Ⅳ

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• 缺陷对晶体的性能有重要影响，常见的缺陷为（）。

  A、点缺陷

  B、线缺陷

  C、面缺陷

  D、A+B+C

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• （）是影响硅器件成品率的一个重要因素，也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。

  A、点缺陷

  B、线缺陷

  C、面缺陷

  D、微缺陷

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